常温半导体测试 气敏测试 大气探针台是一种用于半导体器件电性能测试的重要设备，通常由精密的机械结构、高性能的探针针头和电性能测试仪器组成。探针台可以对半导体芯片、集成电路和其他微电子器件进行直接的电性能测试，从而为研究和生产提供有价值的信息。探针台主要用于晶圆加工之后、封装工艺之前的CP测试环节，负责晶圆的输送与定位，确保从晶圆表面向精密仪器输送更稳定的信号，实现更加精确的数据测试测量。

大气探针台 电信号测试是一种用于半导体器件电性能测试的重要设备，通常由精密的机械结构、高性能的探针针头和电性能测试仪器组成。探针台可以对半导体芯片、集成电路和其他微电子器件进行直接的电性能测试，从而为研究和生产提供有价值的信息。探针台主要用于晶圆加工之后、封装工艺之前的CP测试环节，负责晶圆的输送与定位，确保从晶圆表面向精密仪器输送更稳定的信号，实现更加精确的数据测试测量。

常温探针台 电信号测试 是一种用于半导体器件电性能测试的重要设备，通常由精密的机械结构、高性能的探针针头和电性能测试仪器组成。探针台可以对半导体芯片、集成电路和其他微电子器件进行直接的电性能测试，从而为研究和生产提供有价值的信息。探针台主要用于晶圆加工之后、封装工艺之前的CP测试环节，负责晶圆的输送与定位，确保从晶圆表面向精密仪器输送更稳定的信号，实现更加精确的数据测试测量。

科研小型气敏测试真空探针台，可预留接口以备安装电子阀及流量计之用，充入其它气体使用，温度范围为77.15K至673.15K（-196摄氏度到400摄氏度）

制备LK-99 可选用 微型探针太台测试材料，可预留接口以备安装电子阀及流量计之用，充入其它气体使用，温度范围为77.15K至673.15K（-196摄氏度到400摄氏度）